摘 要:本文介绍了基于特征匹配的集成电路芯片管脚视觉检测方法。在IC 集成电路的制造过程中, 从抓取芯片到芯片在印刷板的定位过程中, 除了判定芯片功能合格以外,还需判定芯片的管脚间距是否缺损。团队利用计算机(试读)...