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电子元器件破坏性物理分析方法国内外发展趋势-标准科学2025年13期

电子元器件破坏性物理分析方法国内外发展趋势

作者:王爽 周钦沅 字体:      

Domestic and International Development Trends of Destructive Physical Analysis (DPA) Methods for Electronic Components

WANG Shuang ZHOU Qinyuan (China Electronics Standardization Institute)

Abstr(试读)...

标准科学

2025年第13期